基础练习 芯片测试 Java

//正确代码
import java.util.Scanner;  

public class Main{  
    public static void main(String[] args) {  
        Scanner input = new Scanner(System.in);  
        int n = input.nextInt();  

        int [] count = new int[n];   
        int [][] arr = new int[n][n];  

        for (int i=0; i<arr.length;i++){  
            for (int j=0; j<arr[i].length; j++){  
                arr[i][j] = input.nextInt();  
                if (arr[i][j] == 1){  
                    count[j]++;  
                }  
            }  
        }  

        for (int i=0; i<n; i++){  
            if (count[i]>(n/2)){  
                System.out.print(i+1+" ");  
            }  
        }  
    }  
}  
//错误代码
import java.util.Scanner;
public class Main{

	public static void main(String[] args) {
        Scanner sc=new Scanner(System.in);
        int n=sc.nextInt();
        int[][] a=new int[n][n];
        for(int i=0;i<n;i++){
        	for(int j=0;j<n;j++)
        		a[i][j]=sc.nextInt();
        }
        int k=0,l=0;
        int[] count=new int[40000];
        for(int i=0;i<n;i++){
        	for(int j=0;j<n;j++)
        		if(a[i][j]==a[j][i]&&i!=j&&a[i][j]==1)
        				count[k++]=i+1;
        }
        while(count[l]!=0){
        	if(count[l]!=count[l+1])
        		System.out.print(count[l]+" ");
        	l++;
        }
    }
}

 基础练习 芯片测试  

时间限制：1.0s   内存限制：512.0MB

       

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

错误的代码是我认为，当a[i][j]=a[j][i]=1&&i!=j时就是好的芯片，但是后来提交发现这种思路不对，然后从网上找到一个简单的思路：只要这一行1的个数超过一半，这个芯片就是好的。