JEDEC JESD22-A117E：2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM)

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文件名称：JEDEC JESD22-A117E：2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM)
文件大小：323KB
文件格式：PDF
更新时间：2022-12-13 15:01:33
JEDEC 英文电子版JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）。标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范（针对循环计数、持续时间、温度和样本大小），或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。