芯片验证测试及失效分析

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文件名称：芯片验证测试及失效分析
文件大小：440KB
文件格式：PDF
更新时间：2020-11-02 23:26:36
失效分析 芯片测试 本文对验证测试与失效分析技术进行了系统介绍，包括验证测试的一般流程、常用的分析方法以及基于验证测试的失效分析。通过分析集成电路设计和制造工艺的发展给测试带来的影响，简要介绍了验证测试面临的挑战以及未来关注的若干问题。