半导体失效机制与模型

时间:2019-12-20 06:57:49
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文件名称:半导体失效机制与模型

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更新时间:2019-12-20 06:57:49

半导体 失效

JEDEC文档,权威性,描述从硅开始,到晶圆生产,再到封装过程中在不同模型下的可能引起的失效原因,比如热失效, 锡胡须, 电化学迁移,BGA焊球锡含一定水分等等;随时间的对数正态分布或失效韦伯分布失效模型等。


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