LM算法在OCD低频噪声参数拟合中的应用 (2004年)

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文件名称：LM算法在OCD低频噪声参数拟合中的应用 (2004年)
文件大小：144KB
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更新时间：2021-05-26 23:45:57
工程技术 论文 用测量低频噪声的方法对航天用光电耦合器件(Optoelectronic Coupled DeVices，OCD)的可靠性进行了筛选，并在测量大量OCD器件的基础上，采用Levenberg-Marquardt(LM)算法对实际噪声功率谱进行了低频噪声谱参数拟合，进而确定了导致噪声增加的器件内部缺陷。该方法快速有效，为改进光电耦合器件的生产工艺，提高产品的质量和可靠性提供了理论依据。