VLSI测试方法学和可测性设计

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文件名称：VLSI测试方法学和可测性设计
文件大小：18.19MB
文件格式：PDF
更新时间：2019-07-12 10:48:02
VLSI测试 一本关于VLSI的可测试性设计的书，内容很全，从电路基础知识到故障模型、测试方法等都有讲解