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文件名称：JESD22简介目录
文件大小：49KB
文件格式：DOCX
更新时间：2022-02-18 03:52:33
JESD22目录
AEC-Q100 是基于集成电路应力测试认证的失效机理的标准，它包含以下12个测试方法：
¶ AEC-Q100-001 邦线切应力测试
¶ AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
¶ AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
¶ AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
¶ AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
¶ AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
¶ AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
¶ AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
¶ AEC-Q100-009 电分配的评估
¶ AEC-Q100-010 锡球剪切测试
¶ AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
¶ AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC-Q101 是汽车级半导体分立器件应力测试认证，它包含以下6个测试方法：
¶ AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试
¶ AEC-Q101-002 机械模式静电放电测试