文件名称：数字测试基础(DC,AC,O/S,功能)
文件大小：2.71MB
文件格式：RAR
更新时间：2014-09-08 09:24:15
数字测试
数字测试基础 1． DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT （Unit Under Test）。 首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类， ● 输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化 为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。 ● 输出：在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲作用的信号输出通道；输出管脚提供正确的逻 辑“0”或“1”的电压，并提供合适的驱动能力（电流）。
【文件预览】：
1-介绍.pdf
4-功能测试.pdf
5-AC TEST.pdf
2-OS TEST.pdf
3-DC TEST.pdf