软件多缺陷定位（Multi-Fault Localization）是软件工程中的一个重要研究方向，旨在同时定位代码中存在的多个缺陷（Bug）。由于多个缺陷可能相互干扰（如掩盖错误行为），导致传统单缺陷定位方法效果下降，因此需要针对多缺陷场景的特殊性设计方法。以下是常见的多缺陷定位方法及其技术要点：
1. 基于频谱的缺陷定位（Spectrum-Based Fault Localization, SBFL）扩展
-
原理：通过分析测试用例覆盖的代码频谱（如语句执行次数、通过/失败测试用例的分布）计算代码实体的可疑度。
-
多缺陷扩展：
-
多目标优化：将多个可疑位置组合作为候选，使用启发式算法（如遗传算法）寻找最优解。
-
聚类分析：将高可疑度的代码实体聚类，假设每个簇对应一个潜在缺陷。
-
-
工具：Tarantula、Ochiai、Jaccard 等指标的改进版本。